Categoría: XRF Fluorescencia de rayos X

Los rayos X forman parte de un espectro electromagnético y son expresados en términos de su energía (Kilo Electrón Voltio- Kev) o forma de onda (Nanometros- Nm). La fluorescencia de rayos x es una consecuencia de los cambios que toman lugar dentro de un átomo. Un átomo estable se comprende de un núcleo y los electrones que lo orbitan, estos son organizados en capas, cada capa esta hecha de electrones con la misma energía. Con una alta energía incidente (primaria) los rayos X que colisionan con un átomo perturban la estabilidad de éste. Un electrón es eyectado de una capa menor de energía (ej. Capa K,  ver imagen) y se genera un espacio. Como resultado un electrón de un nivel de energía más alto (ej. Capa L ver imagen) cae y llena ese espacio.
La diferencia de energía producida mientras el electrón se mueve entre estos niveles es liberada en forma de  rayos X secundarios los cuales son característicos al elemento, este proceso es llamado fluorescencia de rayos X.
 
La fluorescencia de rayos x es una técnica aprobada para análisis de materiales en un amplio rango de industrias y aplicaciones, dese identificación positiva de materiales (PMI), análisis de chatarra, medición de azufre en aceite, análisis de espesor de recubrimiento, análisis de metales y control de calidad.
Beneficios
  • Mínima o ninguna preparación de muestra.
  • Análisis no destructivo.
  • Análisis de sólidos, líquidos, polvos, películas, granulados, etc.
  • Análisis rápido- resultado en minutos.
  • Análisis cuantitativo, cualitativo y semicuantitativo.
  • Análisis de rutina de control de calidad que puede ser realizado con mínimo entrenamiento.
  • No se necesitan ácidos, reactivos o solventes químicos.
  • Análisis desde Na11 (Sodio) a U92 (Uranio) desde ppm a rangos de altas concentraciones en porcentaje.

 

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XRF Fluorescencia de rayos X

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